
精确的动态代码分析
检测实际运行错误,包括硬件依赖性和运行环境特定问题,识别静态代码分析在嵌入式应用程序部署前可能忽略的错误。
产品
C-RUN 动态代码分析(适用于 IAR Embedded Workbench 和选定的 IAR 构建工具)可在应用程序运行时检测代码中的错误。
C-RUN 可增强 CI/CD 自动化、现场测试和运行时错误检测,实现高效调试并识别静态分析遗漏的错误,确保嵌入式软件的可靠性。
C-RUN 提供动态代码分析、堆完整性验证和详细的错误报告,确保嵌入式应用程序中的代码稳健可靠。
Arm | Renesas RX | |
C-RUN |
支持的版本:
IAR C-RUN 可识别运行时问题,例如栈溢出、除零错误、内存泄漏和越界访问。
C-STAT 通过静态代码分析在执行之前检测潜在问题,而 C-RUN 则在代码执行过程中监控,捕捉实时错误。
可以,IAR C-RUN 针对嵌入式应用进行了优化,能够以最小的性能开销高效地检测运行时错误。